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Unidad Principal Multiplexor Associated Research SC6540-GN

Associated Research SC6540-GN Multiplexer Main Unit

Associated Research · Modelo: SC6540-GN MAIN Bajo pedido
Unidad Principal Multiplexor Associated Research SC6540-GN
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El SC6540-GN es una unidad principal multiplexor de corriente alta de 8 canales con matriz de escaneo modular para pruebas de seguridad eléctrica multipunto.

Modelo SC6540-GN MAIN
Fabricante Associated Research
Categoría Módulos y Tarjetas DAQ
Disponibilidad Bajo pedido

Descripción General

El Associated Research SC6540-GN es una unidad principal multiplexor de escaneo de corriente alta de 8 canales diseñada para pruebas de cumplimiento de seguridad eléctrica. Este sistema modular se conecta con instrumentos AR incluyendo OMNIA II, HypotULTRA o LINECHEK para mejorar el rendimiento de la línea de producción y expandir la capacidad de prueba de laboratorio.

La unidad principal SC6540-GN presenta 8 canales independientes de corriente alta en un diseño conveniente de 2U. Puede ser controlada desde el panel frontal de su instrumento AR o a través de varias interfaces de automatización para control directo desde PC, y admite conectividad USB, RS-232, Ethernet opcional o GPIB.

Características Principales

  • 8 canales independientes de corriente alta
  • Diseño compacto de 2U para montaje en rack conveniente
  • Interfaces USB y RS-232 con Ethernet u GPIB opcional
  • Salida de bus multiplexor controla hasta 4 unidades secundarias adicionales para expansión del sistema
  • Operación desde panel frontal o control de automatización completo desde PC
  • Certificado de Calibración Trazable a NIST incluido

Aplicaciones

  • Pruebas AC Hipot para estresar el aislamiento del producto con alto voltaje
  • Pruebas DC Hipot para verificación de rigidez dieléctrica DC
  • Pruebas de continuidad de tierra para verificar la integridad del conductor de tierra de protección
  • Pruebas de continuidad de tierra para confirmar la presencia del conductor de tierra de protección
  • Pruebas de resistencia de aislamiento para determinar la resistencia total de aislamiento
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