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Unidad Fuente Medida Keysight B2911A

Keysight B2911A Source Measure Unit

Keysight · Modelo: B2911A Bajo pedido
Unidad Fuente Medida Keysight B2911A
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Unidad fuente/medida de un solo canal Keysight B2911A con máximo 210V de voltaje, 3A DC y 10.5A pulso de corriente, resolución 10 fA/100 nV para pruebas de semiconductores.

Modelo B2911A
Fabricante Keysight
Categoría Analizadores LCR e Impedancia
Disponibilidad Bajo pedido

Descripción General

Keysight B2911A es una unidad fuente/medida de precisión compacta de un solo canal diseñada para tareas de medición IV versátiles que requieren alta precisión y resolución. Proporciona un rango de salida amplio de ±210 V, ±3 A DC, y capacidad pulsada ±10.5 A con resolución de medición tan fina como 10 fA para corriente y 100 nV para voltaje. Las capacidades integradas de fuente y medición de cuatro cuadrantes permiten caracterización eléctrica precisa de una amplia variedad de dispositivos sin requerir múltiples instrumentos o configuraciones complejas.

La unidad presenta una pantalla LCD color intuitiva de 4.3 pulgadas con modos de vista gráfica y numérica, permitiendo configuración rápida y visualización de datos directamente desde el panel frontal. Las capacidades integradas de generación de forma de onda arbitraria y digitalización con intervalos de 10 microsegundos proporcionan flexibilidad extensa para caracterización eléctrica dinámica. Las múltiples opciones de control de software y soporte de comandos SCPI permiten integración perfecta en entornos de prueba automatizados y compatibilidad con comandos SMU convencionales.

Características Clave

  • Configuración de un solo canal con fuente y medición 4-cuadrantes
  • Salida máxima de 210 V, corriente DC de 3 A / 10.5 A pulso
  • Resolución de fuente y medición 10 fA/100 nV
  • Capacidades integradas de voltaje y corriente 4-cuadrantes
  • Pantalla LCD color de 4.3 pulgadas con modos de vista gráfica y numérica
  • Generación de forma de onda arbitraria y digitalización desde intervalos de 10 microsegundos
  • Medición de alto rendimiento con soporte de comandos SCPI
  • Interfaces USB, LAN, GPIB y E/S digital para integración flexible

Aplicaciones

  • Caracterización de dispositivos ópticos (diodos láser, fotodiodos)
  • Prueba de dispositivos orgánicos (OLED)
  • Caracterización de celdas fotovoltaicas
  • Prueba de materiales de nanotecnología
  • Prueba de dispositivos de gestión de potencia (LDO, reguladores)
  • Caracterización de dispositivos semiconductores (FET, transistores, diodos)
  • Prueba de componentes y aplicaciones de I+D
High Frequency (range) DC <= 1kHz
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