Análisis Avanzado de Fluctuación y Diagrama de Ojo Tektronix 5-DJA
Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis
Tektronix 5-DJA proporciona análisis avanzado de fluctuación y medición de diagrama de ojo con capacidades en tiempo real, descomposición dual-Dirac y análisis espectral para caracterización de señales de alta velocidad.
Detalles del producto
| Modelo | 5-DJA |
| Fabricante | Tektronix |
| Categoría | Accesorios para Osciloscopios |
| Disponibilidad | Bajo pedido |
Description
Descripción general
La opción Análisis Avanzado de Fluctuación y Diagrama de Ojo Tektronix 5-DJA proporciona sensibilidad y precisión líderes en la industria para análisis de integridad de señal en osciloscopios en tiempo real. Basado en el paquete de análisis de diagrama de ojo y fluctuación Tektronix DPOJET probado, esta opción integra medición y análisis completos de fluctuación directamente en el sistema de medición automática del osciloscopio. Simplifica la identificación de problemas de integridad de señal y fuentes de fluctuación en diseños de sistemas digitales, seriales de alta velocidad y de comunicación.
Características principales
- Mediciones básicas de temporización incluyendo período, frecuencia, tiempos de subida/bajada, ancho de pulso y ciclo de trabajo
- Análisis de Error de Intervalo de Tiempo (TIE) y ruido de fase
- Herramientas gráficas incluyendo histogramas, tendencias de tiempo y visualizaciones de espectro
- Recuperación de reloj de software programable con PLL configurable
- Filtros de medición seleccionables paso-alto y paso-bajo
- Análisis de diagrama de ojo en tiempo real con detección automática de velocidad de bits y patrón
- Descomposición avanzada de fluctuación usando métodos espectrales y Q-scale
- Extracción de parámetros de modelo dual-Dirac para análisis de fluctuación estándar de la industria
- Algoritmos de fluctuación jitter no correlacionada acotada (BUJ) para mediciones precisas de Fluctuación Total
- Prueba de máscara de diagrama de ojo y análisis de curva de bañera
- Múltiples tipos de gráficos: tendencia de tiempo, diagrama de ojo, histograma, espectro, curva de bañera y perfil SSC
Aplicaciones
- Cuantificar parámetros de amplitud y temporización de señal con análisis de margen
- Depurar sistemas integrados complejos e interfaces de alta velocidad
- Caracterizar diseños de bus seriales y paralelos de alta velocidad
- Medir fluctuación de reloj y datos/ruido y evaluar integridad de señal
- Caracterizar desempeño dinámico de PLL
- Analizar modulación de circuito de reloj de espectro extendido
- Evaluar generación, transferencia y tolerancia de fluctuación en diseños de sistemas
Especificaciones técnicas
| Jitter Measurement Methods | Spectral, Q-scale, dual-Dirac decomposition |
| Compatible Oscilloscope | Tektronix 5/6 Series MSO |
| Key Timing Measurements | Period, frequency, rise/fall time, pulse width, duty cycle, TIE, phase noise |
| Analysis Types | Eye diagram, jitter histogram, spectrum, bathtub curve, time trend, SSC profile |
| Clock Recovery | Programmable software PLL with configurable parameters |
| Special Algorithms | Bounded uncorrelated jitter (BUJ), dual-Dirac parameter extraction |
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Análisis Avanzado de Fluctuación y Diagrama de Ojo Tektronix 5-DJA