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Tektronix DSA8200 Osciloscopio Analizador Serie

Tektronix DSA8200 Serial Analyzer Oscilloscope

Tektronix · Modelo: DSA8200 Bajo pedido
Tektronix DSA8200 Osciloscopio Analizador Serie
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El Tektronix DSA8200 es un osciloscopio de muestreo del analizador serie digital de alta velocidad para caracterización de transceptores gigabit, verificación de compatibilidad y análisis de integridad de señal con 200 fs acqu...

Modelo DSA8200
Fabricante Tektronix
Categoría Osciloscopios
Disponibilidad Bajo pedido

Descripción General

El Tektronix DSA8200 es un osciloscopio analizador serie digital de muestreo versátil diseñado para desarrollar dispositivos seriales de alta velocidad. Proporciona herramientas integrales para caracterizar el rendimiento del transmisor gigabit y la ruta de señal, y verificar el cumplimiento de aplicaciones de electrónica de comunicación, informática y consumo.

Características Principales

  • Jitter de adquisición ultra bajo de 200 fs con módulo de referencia de fase
  • Hasta 8 canales de entrada simultáneos para mayor flexibilidad y rendimiento
  • Adquisición de señales de modulación de espectro extendido (SSC)
  • Bases de datos de forma de onda de persistencia variable con gradiente de cuatro colores
  • Más de 100 mediciones automatizadas
  • Mediciones completas de comunicaciones incluyendo tipos OMA y perfiles SSC
  • Pruebas automáticas de máscara ITU/ANSI/IEEE con actualizaciones proporcionadas por la fábrica
  • Análisis de TDR e interconexión con cálculos de BER
  • Análisis integral de jitter, ruido y BER

Aplicaciones

  • Caracterización de señal SONET/SDH y pruebas de compatibilidad
  • Validación de dispositivo Fibre Channel
  • Análisis de enlace de datos seriales y Ethernet
  • Caracterización de transceptor y ruta de señal
  • Pruebas de producción y verificación de fabricación
Acquisition Jitter 200 fs (with Phase Reference module)
Input Channels Up to 8 simultaneous
Automated Measurements Over 100
Standards Supported SONET/SDH, Fibre Channel, Ethernet
Measurement Types Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, interconnect analysis
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