Tektronix DSA8300 Osciloscopio Analizador de Muestreo Digital
Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope
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El Tektronix DSA8300 es un osciloscopio de muestreo digital de alta velocidad para pruebas de comunicaciones ópticas y eléctricas de 155 Mb/s a 400G PAM4 con jitter intrínseco inferior a 100 femtosegundos.
Detalles del producto
| Modelo | DSA8300 |
| Fabricante | Tektronix |
| Categoría | Osciloscopios |
| Disponibilidad | Bajo pedido |
Description
Descripción General
El Tektronix DSA8300 es una plataforma integral de pruebas de capa PHY de alta velocidad para comunicaciones ópticas y eléctricas. Con jitter intrínseco inferior a 100 femtosegundos y soporte para velocidades de datos de 155 Mb/s a 400G PAM4, proporciona caracterización de señal de precisión para pruebas de compatibilidad obligadas por estándares en comunicaciones de datos modernas.
Características Principales
- Jitter intrínseco: inferior a 100 femtosegundos para precisión de medición excepcional
- Módulos ópticos que soportan velocidades de datos de 155 Mb/s a 400G PAM4
- Receptores de referencia óptica (ORR) para pruebas de compatibilidad obligadas por estándares
- Muestreadores eléctricos con anchos de banda seleccionables (280 µV a 20 GHz, 450 µV a 60 GHz típico)
- TDR integrada con tiempo típico de subida de paso de 10 ps
- Análisis integral de jitter, ruido y BER de señales PAM4 y PAM2 NRZ
- Automatización de transmisor 100G-SR4 y TDEC (cierre de ojo de dispersión del transmisor)
- Pruebas automáticas de máscara con más de 80 máscaras estándar de la industria
- Soporte para estándares nuevos y emergentes a través de importación de máscara personalizada
- Velocidad de adquisición de muestra alta: hasta 200 kS/s por canal
- Interfaces IEEE-488, Ethernet y procesador local
Aplicaciones
- Pruebas de comunicaciones ópticas y verificación de compatibilidad
- Caracterización de enlaces ópticos de corto alcance y larga distancia
- Análisis y validación de señal 400G PAM4
- Mediciones de reflectometría en dominio del tiempo (TDR) y parámetros S
- Pruebas de validación de conformidad y fabricación
- Desarrollo y validación de estándares emergentes
Especificaciones técnicas
| Intrinsic Jitter | Less than 100 femtoseconds |
| Optical Data Rate Range | 155 Mb/s to 400G PAM4 |
| Electrical Sampler Noise @ 20 GHz | 280 µV typical |
| Electrical Sampler Noise @ 60 GHz | 450 µV typical |
| TDR Step Rise Time | 10 ps typical |
| Sample Acquisition Rate | Up to 200 kS/s per channel |
| Standard Masks | Over 80 industry-standard masks |
| Measurement Functions | Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters |
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