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Generador de Señal Anritsu MG36241A

Anritsu MG36241A Signal Generator

Anritsu · Modelo: MG36241A Bajo pedido
Generador de Señal Anritsu MG36241A
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Generador de señales RF Anritsu MG36241A con excepcional ruido de fase de -136 dBc/Hz, estabilidad de reloj atómico y rango de frecuencia de 9 kHz a 43.5 GHz para mediciones de precisión.

Modelo MG36241A
Fabricante Anritsu
Categoría Generadores de Señal de RF y Microondas
Disponibilidad Bajo pedido

Descripción General

El Anritsu MG36241A es un generador de señales RF y microondas que abarca 9 kHz a 43.5 GHz con pureza de señal líder en la industria. Diseñado para aplicaciones de prueba de precisión que incluyen sistemas de radar, cadenas transceptoras y pruebas de convertidores analógico-digital de alta resolución, el MG36241A combina excepcional bajo ruido de fase con estabilidad de frecuencia de reloj atómico a través de una opción de referencia de frecuencia de rubidio interno u oscilador disciplinado por GNSS/GPS.

Características Clave

  • Ruido de fase de banda lateral única (SSB) excepcionalmente bajo de -136 dBc/Hz (típico) y -140 dBc/Hz (medido) a 10 GHz con desplazamiento de 10 kHz
  • Estabilidad de frecuencia de reloj atómico con opción de referencia de frecuencia de rubidio interno y receptor GNSS opcional
  • Muy bajo contenido armónico (<-58 dBc) y rendimiento espurio (<-63 dBc)
  • Capacidades de modulación AM, FM, PM y pulso con opciones de modulación simultánea
  • Capacidad opcional de calibración de frecuencia y nivel en sitio
  • Controles del panel frontal de pantalla táctil de 7 pulgadas con teclado y marcación
  • Múltiples interfaces remotas: USB 3.0, Ethernet 10/100/1000, GPIB
  • Resolución de frecuencia a 0.001 Hz
  • Cobertura de frecuencia extendida a 43.5 GHz permite pruebas de ondas milimétricas

Aplicaciones

  • Mediciones no lineales (P1 dB, IP2, IP3) para amplificadores y mezcladores
  • Fuente de señal modulada por pulso para pruebas de sistemas de radar
  • Sustitución de oscilador local para pruebas de cadena transceptora
  • Fuente de reloj de alta frecuencia para pruebas de ADC/DAC con bajo jitter
  • Caracterización y pruebas de componentes de ondas milimétricas
  • Referencia de frecuencia para calibración y laboratorios de metrología
  • Pruebas de intermodulación de dos tonos e interferencia
Form Factor Benchtop
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