Sistema de Prueba para Diodos Láser Pulsados Keithley 2520

Descripción General

El Keithley 2520 Sistema de Prueba para Diodos Láser Pulsados es un sistema integrado y sincronizado diseñado para probar diodos láser temprano en el proceso de fabricación, antes del empaque o control de temperatura activo. Combina todas las capacidades de suministro y medición necesarias para pruebas LIV (luz-corriente-voltaje) pulsadas y continuas en un instrumento compacto de media cremallera. La sincronización estrecha entre la fuente y la medición asegura alta precisión incluso con anchos de pulso tan cortos como 500ns, lo que lo hace ideal para prueba de producción en proceso de diodos láser a nivel de oblea o barra.

Características Principales

• Solución integrada para pruebas LIV pulsadas y continuas de diodos láser
• Capacidad de pulso hasta 5A; capacidad DC hasta 1A
• Tiempo de pulso programable desde 500ns a 5ms con ciclo de trabajo hasta 4%
• Precisión de medición de 14 bits en tres canales de medición (VF, fotodiodo frontal, fotodiodo trasero)
• Canales de medición sincronizados basados en DSP para mediciones altamente precisas de intensidad luminosa y voltaje
• Hasta 1000 puntos de barrido almacenados en memoria búfer para eliminar tráfico GPIB durante prueba
• Algoritmo de medición aumenta la relación señal-ruido de medición de pulso
• Operaciones de clasificación y manejo de E/S digital
• El barrido se puede programar para detenerse en límite de potencia óptica
• Interfaces IEEE-488 y RS-232

Aplicaciones

• Prueba de producción de diodos láser a nivel de oblea o barra
• Aseguramiento de calidad de fabricación temprana antes del empaque
• Caracterización de potencia óptica y eléctrica de diodos láser
• Prueba pulsada y DC de fuentes ópticas semiconductoras

Accesorios Incluidos

• Manual del usuario
• Guía de referencia rápida
• Cable Triax (Cantidad 2)
• Cables coaxiales BNC 10W (Cantidad 4)